簡(jiǎn)要描述:二次元測(cè)量檢測(cè)儀器設(shè)備Z 軸增加測(cè)頭或激光位移傳感器等設(shè)備后還可對(duì) 3D 圖形元素如圓柱、圓錐、圓球、以及三維空間內(nèi)的面進(jìn)行測(cè)量。根據(jù)元素的實(shí)際特征,每種元素可采用多種不同的方法測(cè)量。尋邊結(jié)束即可直接獲取出元素的坐標(biāo)值、長(zhǎng)度、面積、體積等數(shù)據(jù)。
二次元測(cè)量檢測(cè)儀器設(shè)備Z 軸增加測(cè)頭或激光位移傳感器等設(shè)備后還可對(duì) 3D 圖形元素如圓柱、圓錐、圓球、以及三維空間內(nèi)的面進(jìn)行測(cè)量。根據(jù)元素的實(shí)際特征,每種元素可采用多種不同的方法測(cè)量。尋邊結(jié)束即可直接獲取出元素的坐標(biāo)值、長(zhǎng)度、面積、體積等數(shù)據(jù)。
支持鏡頭畸變補(bǔ)償,有效降低因鏡頭畸變帶來(lái)的測(cè)量誤差
? 將傳統(tǒng)像素校準(zhǔn)、中心補(bǔ)償與畸變校準(zhǔn)算法集成在一起,可一鍵解決標(biāo)定問(wèn)題
? 支持移動(dòng)式工作機(jī)臺(tái)拼接測(cè)量,并提供多種補(bǔ)償方式,提升機(jī)臺(tái)精度與穩(wěn)定性
? 尋邊和過(guò)濾算法,大幅提升邊緣抓取的穩(wěn)定性
? 亞像素算法,顯著提升邊緣精準(zhǔn)度與重復(fù)性
? 深入優(yōu)化的定位與補(bǔ)償算法,極大縮短絕對(duì)測(cè)量時(shí)間,真正實(shí)現(xiàn)閃測(cè)效果
? 根據(jù)不同用戶偏好,支持多種數(shù)據(jù)結(jié)果呈現(xiàn)格式
? 特征匹配算法,支持復(fù)雜特征匹配與多工件測(cè)量
? 支持按比例保存拼接后的捕獲的源圖,源圖可供客戶其它分析使用
二次元測(cè)量檢測(cè)儀器設(shè)備技術(shù)參數(shù)
規(guī)格型號(hào) | TOCK-432PT-H |
量測(cè)范圍(XYZ) | 400X300X200 |
重量 | 280KG |
承重 | 30KG |
傳動(dòng)方式 | V導(dǎo)軌+光軸 |
平臺(tái)、底座材質(zhì) | 高精度花崗巖00級(jí)(山東濟(jì)南青) |
XY 精度 | (3+L/200)μm |
光柵尺分辨率 | XYZ:0.5μm |
鏡頭 | 4K高清鏡頭 |
鏡頭倍率 | 光學(xué)放大倍率:0.7X-4.5X |
CCD影像 | 1/1.8靶面尺寸 200萬(wàn)像素彩色CCD |
光源 | LED白色近平行光+上光源 (軟件和手動(dòng)兩種控制方式) |
量測(cè)軟件 | INS-M |